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23 mai 2023
Programme de Versailles sur les Matériaux de pointe et les Normes

Programme de Versailles sur les Matériaux de pointe et les Normes

De quoi s'agit-il?

Le VAMAS a été créé lors du sommet économique du G7 de Versailles en 1982 afin de stimuler le marché des nouvelles technologies basées sur des matériaux de pointe. Son objectif principal est de promouvoir le commerce mondial par l'innovation et l'adoption de matériaux avancés grâce à des collaborations internationales qui fournissent la base technique pour l'harmonisation des méthodes de mesure, conduisant aux meilleures pratiques et normes nécessaires à l’instauration de la confiance (démonstration de performances, contrôle qualité et évaluation des risques/sécurité).

A noter que derrière ces matériaux de pointe/matériaux avancés, il y a aujourd’hui très souvent des nanomatériaux ou des matériaux nanostructurés.

La France était l’un des 7 pays créateurs de ce réseau international de pré-normalisation, qui compte aujourd’hui 16 pays membres (Australie, Brésil, Canada, Chine, Taiwan, France, Allemagne, Inde, Italie, Japon, Corée du Sud, Mexique, Afrique du Sud, Grande-Bretagne, Etats-Unis, Commission Européenne). Un Memorandum of Understanding (MoU), signé par un représentant du gouvernement ou de l’administration des Etats membres, fixe les règles de fonctionnement.

Le VAMAS, présidé alternativement par les Etats-Unis (NIST) ou la Grande-Bretagne (NPL) depuis un certain nombre d’années, intervient principalement via l’organisation de comparaisons inter-laboratoires entre acteurs experts. Cela permet de valider des méthodes de caractérisation/mesure et de produire des données de répétabilité/reproductibilité destinées à alimenter les normes ISO, IEC ou nationales dans le domaine. Tout laboratoire peut y participer (sur fond propre) pour accéder aux meilleures pratiques en cours et évaluer sa maitrise d'une technique ou d'une procédure de mesure!

Comment le VAMAS est-il organisé?

Très souvent les laboratoires nationaux de métrologie sont les représentants des pays membres au sein du Comité de Pilotage (i.e. pour la France, le LNE joue ce rôle), mais d’autres acteurs (académiques ou industriels) peuvent néanmoins occuper l'un des trois sièges offerts à chaque Etat membre.

Le VAMAS est organisé en plusieurs groupes de travail (TWA = Technical Working Area) qui hébergent chacun plusieurs projets.

Les TWAs suivants peuvent être d'intérêt pour les membres de NanoMesureFrance

  • TWA 2 Surface Chemical Analysis
  • TWA 33 Polymer Nanocomposites
  • TWA 34 Nanoparticle Populations
  • TWA 41 Graphene and Related 2D Materials
  • TWA 42 Raman Spectroscopy and Microscopy
  • TWA 45 Materials and Environment (micro-nanoplastics)

Les travaux du VAMAS sont directement valorisés au niveau de la normalisation avec la production de 85 normes nationales, régionales ou internationales, environ 50 rapports et 600 publications.

A noter par ailleurs que des experts de pays non officiellement membres du VAMAS peuvent contribuer aux discussions menées au sein des groupes de travail en place ou participer aux comparaisons inter-laboratoires organisées par les TWA. Ces experts ne peuvent en revanche pas participer au Comité de Pilotage qui prend les décisions stratégiques (lancement de nouveaux groupes de travail, communication, interactions avec d’autres entités/réseaux, bilan des activités…).

Comparaisons inter-laboratoires en cours

Différents exercices d'inter-comparaisons sont en cours avec un appel à manifestation d'intérêt les laboratoires intéressés.

Au programme différentes propriétés des matériaux de la famille du graphène, microplastiques ou encore la préparation de spécimen par FIB pour des caractérisation par TEM.

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  • Development of standardized methodologies for characterisation of microplastics with microscopy and spectroscopy methods
  • Development of guidelines for reproducible TEM specimen preparation by focused ion beam processing
  • Determination of the S, F, Cl and Br content of graphene powders by Combustion Ion Chromatography (C-IC)
  • Determination of disorder and number of layers of graphene flakes by Raman Spectroscopy
  • Lateral size and thickness measurement of few-layer graphene flakes using scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM)
  • Measurement of lateral resolution of Raman Microscopy with nanowire artefacts

Un webinaire pour présenter plus en détails le VAMAS et les modalités de participation est en préparation.

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